Analizatory tekstury

Analizator tekstury AMETEK Brookfield CTX

Analizator tekstury CTX to nowy zaawansowany model firmy AMETEK Brookfield do badania fizycznych właściwości substancji i materiałów. Urządzenie CTX jest idealnym rozwiązaniem dla laboratoriów badawczo-rozwojowych wykonujących testy oceny/charakteryzacji materiałów. 
Ponadto, świetnie sprawdzi się również w aplikacjach kontroli jakości, ponieważ urządzenie oferuję  możliwość wysyłania lub zapisywania danych testowych w wielu formatach. 

Funkcje użytkowe CTX pozwalają na łatwą konfigurację i szybkie rozpoczęcie pracy. Niezależnie od tego, czy testujesz konsystencję tabletek, zdolność odrywania wieczka np. jogurtu, czy wytrzymałość szminki, urządzenie CTX spełni stale rosnące potrzeby testowe. 

  • Zapewnia "rzeczywisty" wgląd we właściwości fizyczne.
  • Wymienne czujniki wagowe dla optymalnej elastyczności (osiem opcji od 100g do 100kg).
  • Czytelny wyświetlacz i łatwe w obsłudze intuicyjne elementy sterujące.
  • Wydłużony wysięgnik do 280 mm dla dłuższego zasięgu testowania.
  • Wysoka precyzja: częstotliwość wysyłania danych 500 Hz pozwala na precyzyjne uchwycenie momentu zmiany próbki.
  • Wybór trzech regulowanych stołów bazowych pozwala na wszechstronność testowania próbek.
  • Zgodność z 21CFR z opcjonalnym oprogramowaniem TexturePro.

Oprogramowanie TexturePro  oferuję użytkownikom możliwość porównywania danych testowych z wielu serii w celu zapewnienia powtarzalności wyników.

OPCJONALNE AKCESORIA

CTX posiada szeroką gamę sond, uchwytów do testowania różnych materiałów opakowaniowych, żywności, kosmetyków, farmaceutyków i urządzeń mechanicznych.

AMETEK Brookfield może również zaprojektować oprzyrządowanie i sondę dla większości zastosowań. 

  • Oprogramowanie TexturePro
  • Sonda temperatury
  • Poziomica pęcherzykowa
  • Zestaw odważników kalibracyjnych

  • System kąpieli żelatynowej do kondycjonowania żelu Bloom Jar

CTX Texture Analyzer

Cechy kluczowe

Prędkość

0,01-0,1 mm/s (w odstępach co 0,01 mm/s)

Zakres

0,1 do 40 mm/s (w odstępach co 0,1 mm/s)*
Dokładność  ±0,1% ustawionej prędkości
Zakres pozycji  0-280 mm
Rozdzielczość  0,001 mm

 

Szukaj w serwisie
Polityka cookies